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如何根据具体选用选择X荧光设备进行RoHS分析

发布日期：2008-08-24 浏览次数：3997

来源：中国电子商情

作者：英国牛津仪器 John I.H. Patterson博士

主要内容：X荧光技术（XRF）一直以来都是元素分析领域的一种常用技术。因此，当有关限制电子电器产品中的有害物质的法令颁布后（例如欧盟和中国的RoHS指令），XRF自然也就成为了业界所认可的一种值得信赖的检测手段。在绝大多数的相类似指令中，都限定材料中的铅、汞、六价铬，多溴联苯（PBB）和多溴联苯醚（PBDE）的含量必须分别低于0.1%，镉的含量必须低于0.01%。运用XRF技术能够在直接分析物质中的铅、汞、镉元素含量，并达到相关法令所要求的检测精度；XRF技术可检测铬的总含量，但无法分辨其在不同原子价状态下的各自含量；同样，运用XRF技术可以检测溴的总含量，但是无法判断在不同种类的溴的化合物的分别含量。综上所述，当被测样品为均质材料且样品材料厚度满足XRF测试要求的条件下，XRF的测试结果能够对厂家控制和检测物质中的有害元素提供非常有价值的信息。目前标准组织ASTM下属的ASTM F-40委员会一直在致力于制定相关的标准测试方法来规范相关材料中有害物质的分析。下文中将提到的关于测试塑胶样品中的有害物质的测试方法已经非常的接近于即将被批准和公布的测试方法了……

全文请点击下载

CEM-April1.pdf。

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